InnoTemp verfolgt das Ziel, ein innovatives Mess- und Prüfsystem zur präzisen, dynamischen und echtzeitfähigen Erfassung der Chip-Temperatur von Leistungshalbleitern während des Betriebs von Wechselrichtern zu entwickeln. Die Chip-Temperatur ist ein entscheidender Parameter für die Zuverlässigkeit, Effizienz und Lebensdauer leistungselektronischer Systeme, insbesondere in der Automobilindustrie, der Energieerzeugung und -übertragung sowie der industriellen Automatisierung.

Kern des Ansatzes ist die Nutzung der temperatur- und stromabhängigen Durchlassspannung von Halbleitern als Messgröße zur Bestimmung der Chip-Temperatur unter realen Betriebsbedingungen. Diese Methode soll erstmals dynamisch im laufenden Betrieb angewendet werden und bestehende, ungenaue oder aufwendige Messverfahren (z.B. Infrarot-Thermografie) ersetzen.

Die Entwicklung umfasst ein automatisches Kalibriersystem sowie eine hochpräzise, skalierbare Messelektronik, die Spannungsänderungen im Millivoltbereich zuverlässig erfasst, Störeinflüsse unterdrückt und eine kompakte, einfach integrierbare Lösung für leistungselektronische Anwendungen darstellt.

Damit adressiert InnoTemp ein zentrales technologisches Problem branchenübergreifend relevanter Industrien. Durch die präzise Temperaturerfassung ermöglicht das System eine optimierte Auslegung und Betriebsführung von Leistungselektronik, steigert die Energieeffizienz und leistet so einen wesentlichen Beitrag zur Energiewende.